材料特征及定性分析

超高分辨场发射扫描电子显微镜

品牌型号

Zeiss Merlin Compact

性能参数

二次电子像分辨率0.8nm@15kV

放大倍率12X-200WX

加速电压0.02-30kV

检测项目

1）材料表面形貌、尺寸

2）材料微区化学元素组成和分布（B-U，元素含量＞1%）

样品要求

1）块状或粉末样品

2）样品尺寸厚度＜3cm，直径Φ＜5cm

3）不导电样品需进行镀膜

4）不含水分、挥发性油脂和大量浮尘

收费标准

400元/小时

能谱分析加收50元/样

镀膜加收100元/样品盘

俄歇电子能谱仪

型号

ULVAC-PHI 710

性能参数

二次电子场分辨率＜3nm@25kV

俄歇空间分辨率＜8nm@1nA,20kV

俄歇探测灵敏度＞700kcps@10nA,10kV

检测项目

1）表面纳米级深度的元素组成（Li-U）、成分含量及微观形貌观察（纳米级空间分辨率）

2）材料纵向深度组成与多层结构分析

样品要求

1）干燥的导电固体样品

2）样品尺寸：厚度＜10mm，长宽＜20mm

收费标准

150元/样品（全谱+5个元素窄谱）

深度分析700元/小时

X射线光电子能谱仪

型号

ULVAC-PHI QuanteraⅡ

性能参数

束斑在10um X射线功率小于1.3W时，灵敏度≥20kcps，分辨率≤0.6eV@Ag3d

探测灵敏度：原子百分比0.01%-0.1%

检测项目

1）样品表面元素定性、半定量分析（Li-U）

2）配备离子枪可进行材料纵向深度组成与多层结构分析（层厚分辨率2-3nm）

样品要求

1）块状或粉末样品；

2）样品尺寸：厚度＜8mm，长宽＜60mm；

3）样品具有可测试平面＞5mm×5mm；

收费标准

150元/样品（全谱+5个元素窄谱）

深度分析500元/小时

X射线衍射仪

型号

BRUKER D8 ADVAVCE A25

性能参数

可读最小步长0.0001°

角度重现性0.0001°

2θ转动范围：0-150°

检测项目

多晶样品物相定性和半定量分析（角度范围10°-150°）

样品要求

1）片状或粉末样品；

2）样品尺寸：厚度＜8mm，直径＜35mm；

3）需有可测试平面，面积不小于10mm×10mm；

4）粉末样品大约1-2g

收费标准

80元/样品

X射线荧光光谱仪

型号

Panalytical AxiosmAx

性能参数

角度再现精度0.0001°

闪烁探测器最大计数1500kcps

流气探测器最大计数3000kcps

检测项目

可进行F-U元素定性、半定量分析

样品要求

直径45-48mm，厚度0.5-10mm固体样品

收费标准

120元/样品

拉曼光谱仪

型号

HORIBA LabRAM HR Evolution

性能参数

光谱重复性≤±0.03cm-1

灵敏度：硅三阶峰信噪比优于22:1

检测项目

未知物质官能团的判定

样品要求

1）固体或液体样品（金属单质除外）

2）样品尺寸高度＜2cm，长宽＜10cm×10cm

收费标准

100元/样品