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激光测量

波长计

Linewidth Analyzer

HighFinesse线宽分析仪测量,分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器频率偏差时间轨迹的测量频率噪声密度频谱强度噪声频谱激光线形光谱HighFinesse线宽分析仪(LWA)是一款用途广
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HighFinesse线宽分析仪

测量,分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器

  • 频率偏差时间轨迹的测量
  • 频率噪声密度频谱
  • 强度噪声频谱
  • 激光线形光谱

HighFinesse线宽分析仪(LWA)是一款用途广泛,坚固耐用的紧凑型仪器,用于测量,分析和控制激光器的频率和强度噪声。这使它们成为实时精确表征激光的理想型设备。

通过将干涉测量工作原理与高端光学和电子组件相结合,可以实现出色的灵敏度。基于随时间变化的频率偏差的测量,可以计算出频率噪声密度谱,评估低至350 Hz的内部的(洛伦兹)线宽和有效(光学)线宽以及相对强度噪声(RIN)的光学线形。通过进一步分析,可以获取许多额外的量。LWA的无偏测量原理优于光学延迟线技术,因为由于技术固有的信息丢失,后者依赖于非平凡的评估需求。 LWA还允许使用PID控制来减少激光器的线宽。

LWA-1k产品系列是用于测量非常低线宽的仪器。 LWA-100k产品系列可在非常大的波长范围内进行精确的线宽测量。

LWA-1k Series
• frequency noise density:   50 Hz – 10 MHz
• optical & Lorentzian linewidth:   350 Hz – 20 MHz
• narrowing linewidth PID control
• based on frequency discriminator (interferometer)
  Wavelength range [nm] Noise floor [Hz/√Hz] Frequency Noise Bandwidth Intrinsic linewidth range Effective linewidth range
LWA-1k 780 760 - 1064 25 - 500 10 Hz - 10 MHz < 8 kHz < 10 kHz - 20 MHz
LWA-1k 1550 1530 - 1565 5 - 100 10 Hz - 10 MHz < 350 Hz < 1 kHz - 20 MHz

 


LWA-100k Series
• frequency noise density:   25 Hz – 10 MHz
• optical & Lorentzian linewidth:   2 kHz – 20 MHz
• narrowing linewidth PID control
• based on frequency discriminator (interferometer)• based on frequency discriminator (interferometer)
  Wavelength range [nm] Noise floor [Hz/√Hz] Frequency Noise Bandwidth Intrinsic linewidth range Effective linewidth range
LWA-100k NIR 1064 - 1625 25 - 1000 25 Hz - 10 MHz < 2 kHz < 10 kHz - 20 MHz
LWA-100k VIS